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當(dāng)前位置：廣東森德儀器有限公司>>分析儀器>> HORIBASZ-100 V2 納米顆粒分析儀
產(chǎn)品簡介 產(chǎn)地類別 進(jìn)口 SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測定；還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。 詳情介紹 SZ-100 V2 納米顆粒分析儀 是準(zhǔn)確測量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具， 如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測定； 還可以用于 檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。 SZ-100 V2納米顆粒分析儀 典型應(yīng)用包括： 納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。 產(chǎn)品特點(diǎn) · 同臺(tái)儀器可測三種參數(shù) ——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù) · 寬檢測范圍，寬濃度范圍 —— 樣品濃度可達(dá)40% · 自動(dòng)滴定儀 ——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動(dòng)滴定 · 軟件操作簡單功能*，一鍵測量 · 雙光路雙角度粒徑測量 （90° 和173°） · 采用微量樣品池 技術(shù)參數(shù) 粒徑測量原理： 動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法） 粒徑測定范圍： 0.3nm ～10μm 粒徑測量精度： ±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm） Zeta 電位測量原理： 激光多普勒電泳法 Zeta 電位測量范圍： -500 mV ～ +500 mV 分子量測量原理： Debye plot 分子量測量范圍： 1000 ～ 2×107 Da 測量角度： 90° 和173°（可自動(dòng)或手動(dòng)選擇） 樣品量： 12μL ～ 1000μL 上一篇： OEM定制化光譜儀（提供給光譜分析儀器 下一篇： Partica mini LA-350-緊湊型激光粒度儀
